HAST高压加速老化试验箱

产品规格 : SN-HAST-35 温度范围：+105℃~+162.5℃，压力范围：0.019~0.393Mpa

HAST高压加速老化试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

产品特点：

◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

◆采用 真空泵，使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。

◆采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据 功能，RS-485通讯接口。

◆汽车级硅胶整体密封条，气密性好，耐用。

◆全自动补水功能,前置式水位确认。

◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为：干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。 HAST高压加速老化试验箱简介：

HAST CHAMBER又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。

赛能高压加速老化试验箱采用 新优化设计，美观大方、做工精细，对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；具有缓降压、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。