测量范围 :
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140x110x100mm
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测量分辨率 :
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0.1nm
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加工定制 :
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是
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用途 :
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测量精密工件的微观形貌
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品种 :
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其他干涉仪
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品牌 :
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中图仪器
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类型 :
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白光干涉仪
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型号 :
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SuperView W1
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半导体技术的电子技术工艺的发展,电子产品都在往轻薄化、小型化发展。而随着电子产品的小型化,器件体积就越做越小,这就对器件加工尺寸以及工艺的容差要求越来越高,如何管控器件按的尺寸和加工工艺对检测手段提出了挑战。特别是以前只需要管控2D尺寸,而现在需要管控3D尺寸,特别是在精密加工及微纳材料等领域中,精度要求都在微米级别。
三维形貌测量仪系统既可配备10倍变焦远距离显微成像镜头,也可配备普通变焦镜头,能同时满足细观及宏观的测量要求,可用于物体表面三维形貌和变形测量。中图仪器研发生产的SuperView W1 光学3D表面轮廓仪可用于微电子、生物、微机械等微细结构的三维形貌测量,其三维形貌测量仪系统配有专用图像处理软件,使得系统测量精度明显提高,并且使用方便、操作简单。
产品参数
技术指标
产品优点
1、测量精度高
扫描模块和内部抗振设计,可实现高0.05%的测量精度重复性和0.002nm的粗糙度RMS重复性,诠释始终如一的测量品质。
2、功能全面
粗糙度、平面度、孔洞分析等3D测量功能全部囊括,距离、角度、直径测量等2D轮廓分析功能覆盖。
3、操作便捷
直观的操作界面,一目了然的操作流程,还有一键分析功能,批量测量不用愁。
4、测量参数涵盖面广
有依据ISO|ASME|EUR|GBT四大国内外标准的300余种特征参数。
中图仪器为顺应现代工业数字化的高精度测量需求,推出SuperView W1三维形貌测量仪具有较快的测量速度,微米级别的精度和超强的稳定性,在精密铸件、精密点胶、3D玻璃,半导体缺陷检测和多层光学薄膜厚度检测,就是这款产品的主要应用领域。
应用领域
应用案例
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